測(cè)厚儀在近十幾年間得到了迅速發(fā)展,國(guó)內(nèi)外均有許多廠家先后推出過(guò)幾十種產(chǎn)品。在超聲測(cè)厚中，測(cè)量數(shù)據(jù)越多，結(jié)果越準(zhǔn)確、可靠性越高。然而測(cè)點(diǎn)多、數(shù)據(jù)膨大，也帶來(lái)了測(cè)量、記錄、分析上的麻煩為了解決這一矛盾、提高工作效率和可靠性，近幾年來(lái)隨著微電子技術(shù)和微型計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展與普及,許多*工業(yè)國(guó)家的研究機(jī)構(gòu)、廠商，先后研制出搭載微電腦的袖珍型超聲測(cè)厚儀，正在逐漸取代常規(guī)中的數(shù)顯超聲測(cè)厚儀。
渦流測(cè)厚儀是一種小型便攜式儀器。 重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用，符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957，多次通過(guò)國(guó)家技術(shù)監(jiān)督部門(mén)的性能試驗(yàn)，獲得計(jì)量器具制造許可證。 儀器的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)—膜厚校準(zhǔn)箔片，由遼寧省計(jì)量院檢測(cè)，附有遼寧省計(jì)量院出具的檢測(cè)報(bào)告。儀器在國(guó)內(nèi)鋁型材、鋁門(mén)窗、技術(shù)監(jiān)督、工程質(zhì)檢等行業(yè)得到廣泛應(yīng)用，得到用戶的信任與好評(píng)。
渦流測(cè)厚儀，用于檢測(cè)各種非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。例如：鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化層或涂層。儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速無(wú)損的膜厚檢查?？捎糜谏a(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
如何正確的使用渦流測(cè)厚儀：
1.開(kāi)機(jī)：按下電渦流測(cè)厚儀開(kāi)機(jī)鍵，蜂鳴提示后儀器自動(dòng)恢復(fù)上次關(guān)機(jī)前參數(shù)設(shè)置，進(jìn)入待測(cè)狀態(tài)。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間不使用儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)。
2.測(cè)頭是安裝在套管里的，以確保測(cè)頭安全穩(wěn)定地定位。測(cè)量時(shí)須握住測(cè)頭上套管，保持測(cè)頭軸線與被測(cè)面垂直。測(cè)頭的頂端，由耐用的硬質(zhì)材料制成。套管前端的V型槽可保證在凸面上準(zhǔn)確測(cè)量。
3.零點(diǎn)校準(zhǔn)：
按校零鍵(ZERO),啟動(dòng)零校準(zhǔn)。顯示屏將顯示ZERO(閃)和平均值(MEAN)字樣。將探頭置于無(wú)涂層樣本(或零板)上，嘀一聲后再抬起探頭，重復(fù)多次，按校零鍵結(jié)束校零，校零字樣停止閃爍。
消除零點(diǎn)校準(zhǔn)方法：
1)按下電渦流測(cè)厚儀校零鍵(ZERO)+消除鍵(CLR),即刪除零校準(zhǔn)和任何存在的校準(zhǔn)值。
2)重新開(kāi)始零點(diǎn)校準(zhǔn)。
注：我們提供的零板與貴司的基材不*一樣即零位不一樣，因此科學(xué)的方法是在貴司實(shí)際工件光潔底材上做的零位校準(zhǔn)。
4.兩點(diǎn)校準(zhǔn)
先校準(zhǔn)零位，方法同一點(diǎn)校準(zhǔn)。
再按校箔鍵(CAL)，顯示器上出現(xiàn)校箔CAL(閃爍)和平均值(MEAN)字樣。將校準(zhǔn)箔置于無(wú)涂層樣本(或零板)上，放上探頭，“嘀”一聲后抬起探頭，如此數(shù)次。用↑，↓箭頭鍵將讀數(shù)調(diào)節(jié)至標(biāo)明的標(biāo)準(zhǔn)箔厚。按校箔鍵(CAL)，“校箔”停止閃爍。校準(zhǔn)完畢，開(kāi)始測(cè)量。
注意：所選箔的厚度應(yīng)大致與被測(cè)涂層厚度相當(dāng)(渦流測(cè)量模式箔片選擇zui低在20um以上；磁性測(cè)量模式箔片選擇zui低在50um以上)。
如讀取了一個(gè)錯(cuò)誤的校準(zhǔn)值，可按清除鍵終止。儀器利用以前的校準(zhǔn)值返回到測(cè)量模式。
更新時(shí)間：2015-11-19
點(diǎn)擊次數(shù)：3538
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
當(dāng)前位置：
